銳隆科研市集 SEM Single crystal silicon wafer/Double side polishing /Experimental research and high purity single crystal silicon wafer/矽晶圓小尺寸切割
NT$100 ~
NT$300 價格因規格、型號而有所不同
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特性：高純度矽單晶襯底，N/P型可選，電阻率0.0001-100歐姆(可選)
晶向：100/110/111
晶向：100/110/111
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商品介紹
用途: 1.用作XRD(X射線衍射分析)、SEM(掃描電子顯微鏡)、FTIR紅外、螢光光譜分析測試基材、AFM(原子力顯微鏡)
2.同步輻射測試樣品載體
3.襯底的分子束外延生長
4.半導體光刻技術等
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